
ナノレベルの薄膜の膜厚・膜質管理
型番: FE-5000 series
・ 高精度な薄膜解析が可能な分光エリプソメトリーに加え、測定角度の自動可変機構を実装させることにより、あらゆる種類の薄膜に対応。
・ 従来の回転検光子法に加え、位相差板の自動脱着機構を設けることにより、測定精度を向上。
・ 従来の回転検光子法に加え、位相差板の自動脱着機構を設けることにより、測定精度を向上。
仕様
型番 | FE-5000 series |
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本体のサイズ (W)x(D)x(H)mm |
650×400×593 |
重さ | 50 |
電源 | AC100V±10V |
希望小売価格 (税抜) |
お問い合わせ |
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